Dielectric properties of Ti, TiO2 and TiN from 1.5 to 60 eV determined by reflection electron energy loss spectroscopy (REELS) and ellipsometry

  1. Fuentes, G.G.
  2. Mancheño, I.G.
  3. Balbás, F.
  4. Quirós, C.
  5. Trigo, J.F.
  6. Yubero, F.
  7. Elizalde, E.
  8. Sanz, J.M.
Revista:
Physica Status Solidi (A) Applied Research

ISSN: 0031-8965

Año de publicación: 1999

Volumen: 175

Número: 1

Páginas: 429-436

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/(SICI)1521-396X(199909)175:1<429::AID-PSSA429>3.0.CO;2-6 GOOGLE SCHOLAR

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