Dielectric properties of Ti, TiO2 and TiN from 1.5 to 60 eV determined by reflection electron energy loss spectroscopy (REELS) and ellipsometry

  1. Fuentes, G.G.
  2. Mancheño, I.G.
  3. Balbás, F.
  4. Quirós, C.
  5. Trigo, J.F.
  6. Yubero, F.
  7. Elizalde, E.
  8. Sanz, J.M.
Zeitschrift:
Physica Status Solidi (A) Applied Research

ISSN: 0031-8965

Datum der Publikation: 1999

Ausgabe: 175

Nummer: 1

Seiten: 429-436

Art: Artikel

DOI: 10.1002/(SICI)1521-396X(199909)175:1<429::AID-PSSA429>3.0.CO;2-6 GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung

Datenquelle: Scopus