Dielectric properties of Ti, TiO2 and TiN from 1.5 to 60 eV determined by reflection electron energy loss spectroscopy (REELS) and ellipsometry

  1. Fuentes, G.G.
  2. Mancheño, I.G.
  3. Balbás, F.
  4. Quirós, C.
  5. Trigo, J.F.
  6. Yubero, F.
  7. Elizalde, E.
  8. Sanz, J.M.
Revista:
Physica Status Solidi (A) Applied Research

ISSN: 0031-8965

Ano de publicación: 1999

Volume: 175

Número: 1

Páxinas: 429-436

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/(SICI)1521-396X(199909)175:1<429::AID-PSSA429>3.0.CO;2-6 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus