Dielectric properties of Ti, TiO2 and TiN from 1.5 to 60 eV determined by reflection electron energy loss spectroscopy (REELS) and ellipsometry

  1. Fuentes, G.G.
  2. Mancheño, I.G.
  3. Balbás, F.
  4. Quirós, C.
  5. Trigo, J.F.
  6. Yubero, F.
  7. Elizalde, E.
  8. Sanz, J.M.
Revista:
Physica Status Solidi (A) Applied Research

ISSN: 0031-8965

Any de publicació: 1999

Volum: 175

Número: 1

Pàgines: 429-436

Tipus: Article

DOI: 10.1002/(SICI)1521-396X(199909)175:1<429::AID-PSSA429>3.0.CO;2-6 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus