A long standoff profilometer for surface inspection in adverse environments based on Conoscopic holography

  1. Enguita, J.M.
  2. Álvarez, I.
  3. Fraga, C.
  4. Marina, J.
  5. Fernández, Y.
  6. Sirat, G.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 2005

Volumen: 5856 PART I

Páginas: 481-490

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.612259 GOOGLE SCHOLAR
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