A long standoff profilometer for surface inspection in adverse environments based on Conoscopic holography
- Enguita, J.M.
- Álvarez, I.
- Fraga, C.
- Marina, J.
- Fernández, Y.
- Sirat, G.
ISSN: 0277-786X
Any de publicació: 2005
Volum: 5856 PART I
Pàgines: 481-490
Tipus: Aportació congrés