A long standoff profilometer for surface inspection in adverse environments based on Conoscopic holography

  1. Enguita, J.M.
  2. Álvarez, I.
  3. Fraga, C.
  4. Marina, J.
  5. Fernández, Y.
  6. Sirat, G.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Any de publicació: 2005

Volum: 5856 PART I

Pàgines: 481-490

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.612259 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus