A long standoff profilometer for surface inspection in adverse environments based on Conoscopic holography

  1. Enguita, J.M.
  2. Álvarez, I.
  3. Fraga, C.
  4. Marina, J.
  5. Fernández, Y.
  6. Sirat, G.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 5856 PART I

Seiten: 481-490

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.612259 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus