In-situ waviness characterization of metal plates by a lateral shearing interferometric profilometer

  1. Frade, M.
  2. Enguita, J.M.
  3. Álvarez, I.
Revista:
Sensors (Switzerland)

ISSN: 1424-8220

Año de publicación: 2013

Volumen: 13

Número: 4

Páginas: 4906-4921

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/S130404906 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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Fuente de los datos: Scopus