In-situ waviness characterization of metal plates by a lateral shearing interferometric profilometer

  1. Frade, M.
  2. Enguita, J.M.
  3. Álvarez, I.
Revista:
Sensors (Switzerland)

ISSN: 1424-8220

Any de publicació: 2013

Volum: 13

Número: 4

Pàgines: 4906-4921

Tipus: Article

DOI: 10.3390/S130404906 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus