In-situ waviness characterization of metal plates by a lateral shearing interferometric profilometer

  1. Frade, M.
  2. Enguita, J.M.
  3. Álvarez, I.
Zeitschrift:
Sensors (Switzerland)

ISSN: 1424-8220

Datum der Publikation: 2013

Ausgabe: 13

Nummer: 4

Seiten: 4906-4921

Art: Artikel

DOI: 10.3390/S130404906 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor

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Datenquelle: Scopus