Metal-insulator transition in crystalline V2O3 thin films probed at atomic-scale using emission Mössbauer spectroscopy

  1. Qi, B.
  2. Gunnlaugsson, H.P.
  3. Ólafsson, S.
  4. Gislason, H.P.
  5. Thorsteinsson, E.B.
  6. Arnalds, U.B.
  7. Mantovan, R.
  8. Unzueta l, I.
  9. Zyabkin, D.V.
  10. Ram, K.B.
  11. Johnston, K.
  12. Krastev, P.B.
  13. Mølholt, T.E.
  14. Masenda, H.
  15. Martín-Luengo, A.T.
  16. Naidoo, D.
  17. Schell, J.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Año de publicación: 2020

Volumen: 714

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.TSF.2020.138389 GOOGLE SCHOLAR