Crystal-field effects at the TiO2-SiO2 interface as observed by X-ray absorption spectroscopy

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Revista:
Langmuir

ISSN: 0743-7463

Año de publicación: 2000

Volumen: 16

Número: 17

Páginas: 7066-7069

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/LA000330X GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus