Crystal-field effects at the TiO2-SiO2 interface as observed by X-ray absorption spectroscopy

  1. Soriano, L.
  2. Fuentes, G.G.
  3. Quirós, C.
  4. Trigo, J.F.
  5. Sanz, J.M.
  6. Bressler, P.R.
  7. González-Elipe, A.R.
Zeitschrift:
Langmuir

ISSN: 0743-7463

Datum der Publikation: 2000

Ausgabe: 16

Nummer: 17

Seiten: 7066-7069

Art: Artikel

DOI: 10.1021/LA000330X GOOGLE SCHOLAR