Crystal-field effects at the TiO2-SiO2 interface as observed by X-ray absorption spectroscopy

  1. Soriano, L.
  2. Fuentes, G.G.
  3. Quirós, C.
  4. Trigo, J.F.
  5. Sanz, J.M.
  6. Bressler, P.R.
  7. González-Elipe, A.R.
Aldizkaria:
Langmuir

ISSN: 0743-7463

Argitalpen urtea: 2000

Alea: 16

Zenbakia: 17

Orrialdeak: 7066-7069

Mota: Artikulua

DOI: 10.1021/LA000330X GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus