Imaging techniques and scanning electron microscopy as tools for characterizing a Si-based material used in air monitoring applications

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Revista:
Materials

ISSN: 1996-1944

Año de publicación: 2016

Volumen: 9

Número: 2

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/MA9020109 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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