Imaging techniques and scanning electron microscopy as tools for characterizing a Si-based material used in air monitoring applications

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Zeitschrift:
Materials

ISSN: 1996-1944

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 9

Nummer: 2

Art: Artikel

DOI: 10.3390/MA9020109 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor

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