Fringe pattern characterization by OPD analysis in a lateral shearing interferometric profilometer

  1. Frade, M.
  2. Enguita, J.M.
  3. Álvarez, I.
  4. Rodríguez-Jiménez, S.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819486783

Any de publicació: 2011

Volum: 8082

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.889267 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus