Toward extended range sub-micron Conoscopic Holography profilometers, using multiple wavelengths and phase measurement

  1. Enguita, J.M.
  2. Álvarez, I.
  3. Marina, J.
  4. Ojea, G.
  5. Cancelas, J.A.
  6. Frade, M.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819476302

Año de publicación: 2009

Volumen: 7356

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.819456 GOOGLE SCHOLAR
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