High accuracy reflectometry technique and statistical measurements treatment method for refraction index determination

  1. Ayuso, D.F.P.
  2. Granda, M.G.
  3. Fernández, S.F.
  4. García, J.R.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 2005

Volumen: 5858

Páginas: 1-10

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.612116 GOOGLE SCHOLAR
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