High accuracy reflectometry technique and statistical measurements treatment method for refraction index determination

  1. Ayuso, D.F.P.
  2. Granda, M.G.
  3. Fernández, S.F.
  4. García, J.R.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 5858

Seiten: 1-10

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.612116 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus