Flatness defect measurement system for steel industry based on a real-time linear-image processor

  1. Garcia, Daniel F.
  2. del Rio, Marcos A.
  3. Diaz, Jose L.
  4. Suarez, Francisco J.
Actas:
Proceedings of the IEEE International Conference on Systems, Man and Cybernetics

ISSN: 0884-3627

ISBN: 0780309111

Año de publicación: 1993

Volumen: 3

Páginas: 331-336

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: Scopus