Flatness defect measurement system for steel industry based on a real-time linear-image processor

  1. Garcia, Daniel F.
  2. del Rio, Marcos A.
  3. Diaz, Jose L.
  4. Suarez, Francisco J.
Konferenzberichte:
Proceedings of the IEEE International Conference on Systems, Man and Cybernetics

ISSN: 0884-3627

ISBN: 0780309111

Datum der Publikation: 1993

Ausgabe: 3

Seiten: 331-336

Art: Konferenz-Beitrag

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Datenquelle: Scopus