Characterizing optical phase-change materials with spectroscopic ellipsometry and polarimetry

  1. Gutiérrez, Y.
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  7. Hingerl, K.
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  9. Thiesen, P.
  10. Losurdo, M.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Año de publicación: 2022

Volumen: 763

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.TSF.2022.139580 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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