Characterizing optical phase-change materials with spectroscopic ellipsometry and polarimetry

  1. Gutiérrez, Y.
  2. Espinoza, S.
  3. Zahradník, M.
  4. Khakurel, K.
  5. Resl, J.
  6. Cobet, C.
  7. Hingerl, K.
  8. Duwe, M.
  9. Thiesen, P.
  10. Losurdo, M.
Zeitschrift:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Datum der Publikation: 2022

Ausgabe: 763

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.TSF.2022.139580 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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