Characterizing optical phase-change materials with spectroscopic ellipsometry and polarimetry

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  7. Hingerl, K.
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  9. Thiesen, P.
  10. Losurdo, M.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Ano de publicación: 2022

Volume: 763

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.TSF.2022.139580 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
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