Tris(dimethylamido)aluminum(III) and N2H4: Ideal precursors for the low-temperature deposition of large grain, oriented c-axis AlN on Si via atomic layer annealing
- Ueda, S.T.
- McLeod, A.
- Alvarez, D.
- Moser, D.
- Kanjolia, R.
- Moinpour, M.
- Woodruff, J.
- Kummel, A.C.
Zeitschrift:
Applied Surface Science
ISSN: 0169-4332
Datum der Publikation: 2021
Ausgabe: 554
Art: Artikel