Readout techniques for linearity and resolution improvements in MOSFET dosimeters
- Carvajal, M.A.
- Vilches, M.
- Guirado, D.
- Lallena, A.M.
- Banqueri, J.
- Palma, A.J.
ISSN: 0924-4247
Año de publicación: 2010
Volumen: 157
Número: 2
Páginas: 178-184
Tipo: Artículo