Readout techniques for linearity and resolution improvements in MOSFET dosimeters
- Carvajal, M.A.
- Vilches, M.
- Guirado, D.
- Lallena, A.M.
- Banqueri, J.
- Palma, A.J.
ISSN: 0924-4247
Any de publicació: 2010
Volum: 157
Número: 2
Pàgines: 178-184
Tipus: Article