Contact resistance and saturation effects in the scanning tunnelling microscope: the resistance quantum unit

  1. Martín‐Rodero, A.
  2. Ferrer, J.
  3. Flores, F.
Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818,  0022-2720

Año de publicación: 1988

Volumen: 152

Número: 2

Páginas: 317-323

Tipo: Artículo

DOI: 10.1111/J.1365-2818.1988.TB01392.X GOOGLE SCHOLAR
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