Capabilities of femtosecond laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry for depth profiling of thin metal coatings

  1. Pisonero, J.
  2. Koch, J.
  3. Wälle, M.
  4. Hartung, W.
  5. Spencer, N.D.
  6. Günther, D.
Revista:
Analytical Chemistry

ISSN: 0003-2700

Ano de publicación: 2007

Volume: 79

Número: 6

Páxinas: 2325-2333

Tipo: Artigo

DOI: 10.1021/AC062027S GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus