Capabilities of femtosecond laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry for depth profiling of thin metal coatings

  1. Pisonero, J.
  2. Koch, J.
  3. Wälle, M.
  4. Hartung, W.
  5. Spencer, N.D.
  6. Günther, D.
Revista:
Analytical Chemistry

ISSN: 0003-2700

Any de publicació: 2007

Volum: 79

Número: 6

Pàgines: 2325-2333

Tipus: Article

DOI: 10.1021/AC062027S GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible