Paving the Way for Suitable Metasurfaces' Measurements under Oblique Incidence: Mono-/Bistatic and Near-/Far-Field Concerns

  1. Alvarez, H.F.
  2. Gomez, M.E.D.C.
  3. Las-Heras, F.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 1557-9662 0018-9456

Datum der Publikation: 2020

Ausgabe: 69

Nummer: 4

Seiten: 1737-1744

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TIM.2019.2913721 GOOGLE SCHOLAR