Analytical potential of rf-PGD-TOFMS for depth profiling of an oxidized thin film composite
- González-Gago, C.
- Pisonero, J.
- Sandín, R.
- Fuertes, J.F.
- Sanz-Medel, A.
- Bordel, N.
ISSN: 1364-5544, 0267-9477
Ano de publicación: 2016
Volume: 31
Número: 1
Páxinas: 288-296
Tipo: Artigo