Flatness measurement system based on a non-linear optical triangulation technique
- Garcia, Daniel F.
- Garcia, Manuel
- Obeso, Faustino
- Fernandez, Valentin
Konferenzberichte:
Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 3
Seiten: 1297-1302
Art: Konferenz-Beitrag