Flatness measurement system based on a non-linear optical triangulation technique
- Garcia, Daniel F.
- Garcia, Manuel
- Obeso, Faustino
- Fernandez, Valentin
Actes:
Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
Any de publicació: 2000
Volum: 3
Pàgines: 1297-1302
Tipus: Aportació congrés