Flatness measurement system based on a non-linear optical triangulation technique

  1. Garcia, Daniel F.
  2. Garcia, Manuel
  3. Obeso, Faustino
  4. Fernandez, Valentin
Actes:
Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference

Any de publicació: 2000

Volum: 3

Pàgines: 1297-1302

Tipus: Aportació congrés