Transverse Kerr magnetometry for the study of thin films presenting perpendicular and in-plane anisotropy

  1. Rivas, M.
  2. Calleja, J.F.
  3. Contreras, M.C.
Revista:
Journal of Magnetism and Magnetic Materials

ISSN: 0304-8853

Año de publicación: 1997

Volumen: 166

Número: 1-2

Páginas: 53-58

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0304-8853(96)00429-5 GOOGLE SCHOLAR
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