Fachbereich: Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Comunicaciones y de Sistemas (DIEECS)

Bereich: Systemtechnik und Automatisierung

War teil dieser gruppen:

Doktor von der Universidad de Oviedo mit der Dissertation Técnicas avanzadas de perfilometría óptica in-situ basada en interferometría de desplazamiento lateral para medidas submicrométricas 2012. unter der Leitung von Dr. Ignacio Álvarez García, Dr. José María Enguita González.