Departamento: Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Comunicaciones y de Sistemas (DIEECS)

Área: Enxeñaría de Sistemas e Automática

Formou parte destes grupos:

Doutor/a pola Universidad de Oviedo coa tese Técnicas avanzadas de perfilometría óptica in-situ basada en interferometría de desplazamiento lateral para medidas submicrométricas 2012. Dirixida por Dr. Ignacio Álvarez García, Dr. José María Enguita González.