GRUPO DE NANOCIENCIA
UONANO
Université de Toulouse
Tolosa, FranciaUniversité de Toulouse-ko ikertzaileekin lankidetzan egindako argitalpenak (1)
2013
-
Charge trapping properties and retention time in amorphous SiGe/SiO 2 nanolayers
Journal of Physics D: Applied Physics, Vol. 46, Núm. 9