Charge trapping properties and retention time in amorphous SiGe/SiO 2 nanolayers

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Revista:
Journal of Physics D: Applied Physics

ISSN: 0022-3727,  1361-6463

Año de publicación: 2013

Volumen: 46

Número: 9

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0022-3727/46/9/095306 GOOGLE SCHOLAR
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