Asymmetric electromigration-driven resistive switching in tunnel junctions

  1. Ventura, J.
  2. Teixeira, J.M.
  3. Araujo, J.P.
  4. Carpinteiro, F.
  5. Sousa, J.B.
  6. Zhang, Z.
  7. Liu, Y.
  8. Freitas, P.P.
Revista:
Journal of Non-Crystalline Solids

ISSN: 0022-3093

Año de publicación: 2008

Volumen: 354

Número: 47-51

Páginas: 5272-5274

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.JNONCRYSOL.2008.04.050 GOOGLE SCHOLAR
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