The use of HI-ERDA/RBS and NRA/RBS to depth profile N in GaAs1-xNx thin films
- Smith, R.W.
- Plaza, J.
- Ghita, D.
- Sánchez, M.
- García, B.J.
- Muñoz-Martín, A.
- Climent-Font, A.
ISSN: 0168-583X
Ano de publicación: 2008
Volume: 266
Número: 8
Páxinas: 1450-1454
Tipo: Artigo