Plasma profiling-time of flight mass spectrometry: considerations to exploit its analytical performance for materials characterization

  1. Muñiz, R.
  2. Lobo, L.
  3. Fernández, B.
  4. Pereiro, R.
Zeitschrift:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 1364-5544,  0267-9477

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 34

Nummer: 4

Seiten: 702-707

Art: Artikel

DOI: 10.1039/C8JA00334C GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus