Capabilities and limitations of LA-ICP-MS for depth resolved analysis of CdTe photovoltaic devices

  1. Gutiérrez-González, A.
  2. González-Gago, C.
  3. Pisonero, J.
  4. Tibbetts, N.
  5. Menéndez, A.
  6. Vélez, M.
  7. Bordel, N.
Revista:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 1364-5544,  0267-9477

Ano de publicación: 2015

Volume: 30

Número: 1

Páxinas: 191-197

Tipo: Artigo

DOI: 10.1039/C4JA00196F GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus