Capabilities and limitations of LA-ICP-MS for depth resolved analysis of CdTe photovoltaic devices

  1. Gutiérrez-González, A.
  2. González-Gago, C.
  3. Pisonero, J.
  4. Tibbetts, N.
  5. Menéndez, A.
  6. Vélez, M.
  7. Bordel, N.
Aldizkaria:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 1364-5544,  0267-9477

Argitalpen urtea: 2015

Alea: 30

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 191-197

Mota: Artikulua

DOI: 10.1039/C4JA00196F GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus