Model-based automated testing of critical PLC programs

  1. Adiego, B.F.
  2. Viñuela, E.B.
  3. Suárez, V.M.G.
  4. Bliudze, S.
Actas:
IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN)

ISSN: 1935-4576

ISBN: 9781479907526

Año de publicación: 2013

Páginas: 722-727

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/INDIN.2013.6622973 GOOGLE SCHOLAR
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