Enhanced secondary electron yield from oxidized regions on amorphous carbon films studied by x-ray spectromicroscopy

  1. Diaz, J.
  2. Anders, S.
  3. Cossy-Favre, A.
  4. Samant, M.
  5. Stöhr, J.
Revista:
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films

ISSN: 0734-2101

Año de publicación: 1999

Volumen: 17

Número: 5

Páginas: 2737-2740

Tipo: Artículo

DOI: 10.1116/1.581938 GOOGLE SCHOLAR
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