METODO Y DISPOSITIVO DE INSPECCION AUTOMATICA.

    Inventores/as:
  1. CAPUZ RIZO,SALVADOR
  2. ORDIERES MERE, JOAQUIN B.
  3. MARTINEZ DE PISON ASCACIBAR, FRANCISCO J.
  4. ELISEO PABLO VERGARA GONZALEZ
  5. ALBA ELIAS, FERNANDO
  6. GONZALEZ MARCOS, ANA
  7. CASTEJON LIMAS,MANUEL
  8. PERNIA ESPINOZA,ALPHA V.
  1. Universidad Politécnica de Valencia
    info

    Universidad Politécnica de Valencia

    Valencia, España

  2. Universidad de La Rioja
    info

    Universidad de La Rioja

    Logroño, España

ES
Publicación principal:

ES2247919A1 (01-03-2006)

Otras Publicaciones:

ES2247919B1 (01-05-2007)

Solicitudes:

P200400886 (01-04-2004)

Imagen de la patente

Resumen

El dispositivo de inspección comprende un preceptor (12) de presencia de un recipiente (15) de manera que genera una primera señal (17) que se aplica a una medio (13) de visión el cual toma una imagen del envase (15). Dicha imagen es enviada a un procesador (14) que confronta la imagen tomada contra un patrón predeterminado almacenado en una memoria, el patrón está asociado con características del elemento que se trata de detectar en el envase. El procesador (14) utilizando un algoritmo es capaz de determinar si en la imagen tomada hay características relativas al elemento que se desea asegurar su presencia en el envase (15), esto es, el algoritmo ejecutado por el procesador (14) es capaz de determina la presencia o ausencia del elemento deseado en el recipiente (15).