Aging Modeling and Simulation of the Gate Switching Instability Degradation in SiC MOSFETs
- Garcia-Mere, J.R.
- Gomez, A.A.
- Roig-Guitart, J.
- Rodriguez, J.
- Rodriguez, A.
ISSN: 1048-2334
ISBN: 9798350316643
Datum der Publikation: 2024
2024 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition, APEC 2024
Seiten: 653-658
Art: Konferenz-Beitrag