Deep Investigation on SiC MOSFET Degradation under Gate Switching Stress and Application Switching Stress
- Gómez, A.A.
- García-Meré, J.R.
- Rodríguez, A.
- Rodríguez, J.
- Jimenez, C.
- Roig-Guitart, J.
ISSN: 1048-2334
ISBN: 9798350316643
Año de publicación: 2024
2024 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition, APEC 2024
Páginas: 1067-1072
Tipo: Aportación congreso